[{"publication_identifier":{"isbn":["978-3-8007-3367-5"]},"year":"2011","conference":{"start_date":"2011-10-10","location":"Darmstadt","name":"4.  Mikrosystemtechnik-Kongress","end_date":"2011-10-12"},"citation":{"ufg":"<b>Brunklaus, Sabine u. a.</b>: Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests, Berlin, Offenbach 2011.","chicago-de":"Brunklaus, Sabine, Volkmar Stein, Michael Jakubowski, Knut Welzel, Ines Frese, Marion Ritzi-Lehnert und Klaus Drese. 2011. <i>Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests</i>. <i>Proceedings - Mikrosystemtechnik-Kongress 2011 : 10. - 12. Oktober 2011, Darmstadt </i>. Berlin, Offenbach: VDE VERLAG GmbH.","bjps":"<b>Brunklaus S <i>et al.</i></b> (2011) <i>Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests</i>. Berlin, Offenbach: VDE VERLAG GmbH.","havard":"S. Brunklaus, V. Stein, M. Jakubowski, K. Welzel, I. Frese, M. Ritzi-Lehnert, K. Drese, Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests, VDE VERLAG GmbH, Berlin, Offenbach, 2011.","short":"S. Brunklaus, V. Stein, M. Jakubowski, K. Welzel, I. Frese, M. Ritzi-Lehnert, K. Drese, Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests, VDE VERLAG GmbH, Berlin, Offenbach, 2011.","ama":"Brunklaus S, Stein V, Jakubowski M, et al. <i>Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests</i>. VDE VERLAG GmbH; 2011:449-452.","apa":"Brunklaus, S., Stein, V., Jakubowski, M., Welzel, K., Frese, I., Ritzi-Lehnert, M., &#38; Drese, K. (2011). Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests. In <i>Proceedings - Mikrosystemtechnik-Kongress 2011 : 10. - 12. Oktober 2011, Darmstadt </i> (pp. 449–452). VDE VERLAG GmbH.","din1505-2-1":"<span style=\"font-variant:small-caps;\">Brunklaus, Sabine</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Stein, Volkmar</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Jakubowski, Michael</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Welzel, Knut</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Frese, Ines</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Ritzi-Lehnert, Marion</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Drese, Klaus</span>: <i>Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests</i>. Berlin, Offenbach : VDE VERLAG GmbH, 2011","van":"Brunklaus S, Stein V, Jakubowski M, Welzel K, Frese I, Ritzi-Lehnert M, et al. Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests. Proceedings - Mikrosystemtechnik-Kongress 2011 : 10. - 12. Oktober 2011, Darmstadt . Berlin, Offenbach: VDE VERLAG GmbH; 2011.","ieee":"S. Brunklaus <i>et al.</i>, <i>Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests</i>. Berlin, Offenbach: VDE VERLAG GmbH, 2011, pp. 449–452.","mla":"Brunklaus, Sabine, et al. “Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests.” <i>Proceedings - Mikrosystemtechnik-Kongress 2011 : 10. - 12. Oktober 2011, Darmstadt </i>, VDE VERLAG GmbH, 2011, pp. 449–52.","chicago":"Brunklaus, Sabine, Volkmar Stein, Michael Jakubowski, Knut Welzel, Ines Frese, Marion Ritzi-Lehnert, and Klaus Drese. <i>Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests</i>. <i>Proceedings - Mikrosystemtechnik-Kongress 2011 : 10. - 12. Oktober 2011, Darmstadt </i>. Berlin, Offenbach: VDE VERLAG GmbH, 2011."},"type":"conference_editor_article","user_id":"65129","date_created":"2024-03-16T19:18:04Z","date_updated":"2024-06-26T13:54:23Z","title":"Vollautomatisches Lab-on-a-Chip-System mit integrierter Probenaufarbeitung zur Durchführung von ELISA-Tests","page":"449-452 ","status":"public","publication":"Proceedings - Mikrosystemtechnik-Kongress 2011 : 10. - 12. Oktober 2011, Darmstadt ","quality_controlled":"1","publisher":"VDE VERLAG GmbH","author":[{"first_name":"Sabine","full_name":"Brunklaus, Sabine","last_name":"Brunklaus"},{"last_name":"Stein","full_name":"Stein, Volkmar","first_name":"Volkmar"},{"last_name":"Jakubowski","first_name":"Michael","full_name":"Jakubowski, Michael"},{"last_name":"Welzel","full_name":"Welzel, Knut","first_name":"Knut"},{"last_name":"Frese","full_name":"Frese, Ines","first_name":"Ines"},{"last_name":"Ritzi-Lehnert","first_name":"Marion","full_name":"Ritzi-Lehnert, Marion"},{"first_name":"Klaus","full_name":"Drese, Klaus","last_name":"Drese"}],"place":"Berlin, Offenbach","publication_status":"published","_id":"11220","language":[{"iso":"ger"}]}]