{"place":"Haar","issue":"7","user_id":"83781","type":"industry_journal_article","status":"public","language":[{"iso":"ger"}],"author":[{"first_name":"Paul","last_name":"Neufeld","full_name":"Neufeld, Paul"},{"full_name":"Meier, Uwe","last_name":"Meier","id":"1143","first_name":"Uwe"},{"full_name":"Helmig, Kai","first_name":"Kai","last_name":"Helmig"},{"first_name":"Stefan","last_name":"Witte","id":"1605","full_name":"Witte, Stefan"}],"page":"36-41","date_updated":"2023-07-28T13:04:24Z","title":"Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen","department":[{"_id":"DEP5000"},{"_id":"DEP5023"}],"publication_status":"published","publication":"Elektronik : Organ der GMM","publication_identifier":{"issn":["0013-5658 "]},"date_created":"2023-07-27T10:14:10Z","citation":{"chicago":"Neufeld, Paul, Uwe Meier, Kai Helmig, and Stefan Witte. “Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen.” <i>Elektronik : Organ der GMM</i>, no. 7 (2010): 36–41.","ieee":"P. Neufeld, U. Meier, K. Helmig, and S. Witte, “Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen,” <i>Elektronik : Organ der GMM</i>, no. 7, pp. 36–41, 2010.","apa":"Neufeld, P., Meier, U., Helmig, K., &#38; Witte, S. (2010). Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen. <i>Elektronik : Organ der GMM</i>, <i>7</i>, 36–41.","bjps":"<b>Neufeld P <i>et al.</i></b> (2010) Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen. <i>Elektronik : Organ der GMM</i> 36–41.","van":"Neufeld P, Meier U, Helmig K, Witte S. Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen. Elektronik : Organ der GMM. 2010;(7):36–41.","ama":"Neufeld P, Meier U, Helmig K, Witte S. Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen. <i>Elektronik : Organ der GMM</i>. 2010;(7):36-41.","short":"P. Neufeld, U. Meier, K. Helmig, S. Witte, Elektronik : Organ der GMM (2010) 36–41.","mla":"Neufeld, Paul, et al. “Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen.” <i>Elektronik : Organ der GMM</i>, no. 7, 2010, pp. 36–41.","din1505-2-1":"<span style=\"font-variant:small-caps;\">Neufeld, Paul</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Meier, Uwe</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Helmig, Kai</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Witte, Stefan</span>: Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen. In: <i>Elektronik : Organ der GMM</i>. Haar, WEKA Fachmedien GmbH  (2010), Nr. 7, S. 36–41","ufg":"<b>Neufeld, Paul u. a.</b>: Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen, in: <i>Elektronik : Organ der GMM</i> (2010), H. 7,  S. 36–41.","havard":"P. Neufeld, U. Meier, K. Helmig, S. Witte, Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen, Elektronik : Organ der GMM. (2010) 36–41.","chicago-de":"Neufeld, Paul, Uwe Meier, Kai Helmig und Stefan Witte. 2010. Die Vermessung industrieller Funksysteme - Echtzeitfähige Kanalemulatoren schaffen reproduzierbare Testumgebungen. <i>Elektronik : Organ der GMM</i>, Nr. 7: 36–41."},"publisher":"WEKA Fachmedien GmbH ","_id":"10157","year":"2010"}