{"publication":"Elektrische und optische Verbindungstechnik 2023 : Tagungsband der VDE/VDI GMM-Fachtagung : 9. Symposium Connectors","publication_identifier":{"unknown":["978-3-00-074593-5"]},"publisher":"Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL","department":[{"_id":"DEP6012"}],"conference":{"end_date":"2023-03-22","name":"VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“","location":"Lemgo","start_date":"2023-03-21"},"title":"Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023","corporate_editor":["Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe"],"date_updated":"2024-05-13T12:25:49Z","citation":{"bjps":"<b>Probst R and Song J</b> (2023) <i>Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. 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Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023. In J. Song &#38; Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe (Eds.), <i>Elektrische und optische Verbindungstechnik 2023 : Tagungsband der VDE/VDI GMM-Fachtagung : 9. Symposium Connectors</i> (pp. 166–177). Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL.","mla":"Probst, Roman, and Jian Song. “Bestimmung der charakteristischen Lebensdauer von Steckverbindern aus der Frühphase beschleunigter Lebensdauerprüfungen – State of Health. Tagungsband der VDE/VDI-GMM- Fachtagung „Symposium Connectors“, 166 – 177, Lemgo 2023.” <i>Elektrische und optische Verbindungstechnik 2023 : Tagungsband der VDE/VDI GMM-Fachtagung : 9. Symposium Connectors</i>, edited by Jian Song and Labor für Feinsystemtechnik, Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe, Labor für Feinsystemtechnik, TH OWL, 2023, pp. 166–77.","van":"Probst R, Song J. 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