{"conference":{"location":"Lemgo","name":"VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“"},"date_created":"2021-09-15T12:53:41Z","language":[{"iso":"eng"}],"date_updated":"2023-03-15T13:50:05Z","year":2019,"author":[{"last_name":"Song","full_name":"Song, Jian","id":"5297","first_name":"Jian"},{"full_name":"Yuan, Haomiao","last_name":"Yuan","id":"61860","first_name":"Haomiao"},{"first_name":"C.","full_name":"Koch, C.","last_name":"Koch"}],"_id":"6292","type":"conference","status":"public","place":"Lemgo","title":"Zuverlässigkeit von Steckverbindern","user_id":"74004","citation":{"havard":"J. Song, H. Yuan, C. Koch, Zuverlässigkeit von Steckverbindern, in: Tagungsband Der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“, Lemgo, 2019: pp. 91–98.","van":"Song J, Yuan H, Koch C. Zuverlässigkeit von Steckverbindern. In: Tagungsband der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“. Lemgo; 2019. p. 91–8.","mla":"Song, Jian, et al. “Zuverlässigkeit von Steckverbindern.” <i>Tagungsband Der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>, 2019, pp. 91–98.","ufg":"<b>Song, Jian et. al. (2019)</b>: Zuverlässigkeit von Steckverbindern, in: <i>Tagungsband der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>, Lemgo, S. 91–98.","bjps":"<b>Song J, Yuan H and Koch C</b> (2019) Zuverlässigkeit von Steckverbindern. <i>Tagungsband Der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>. Lemgo, pp. 91–98.","ieee":"J. Song, H. Yuan, and C. Koch, “Zuverlässigkeit von Steckverbindern,” in <i>Tagungsband der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>, Lemgo, 2019, pp. 91–98.","short":"J. Song, H. Yuan, C. Koch, in: Tagungsband Der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“, Lemgo, 2019, pp. 91–98.","chicago":"Song, Jian, Haomiao Yuan, and C. Koch. “Zuverlässigkeit von Steckverbindern.” In <i>Tagungsband Der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>, 91–98. Lemgo, 2019.","apa":"Song, J., Yuan, H., &#38; Koch, C. (2019). Zuverlässigkeit von Steckverbindern. In <i>Tagungsband der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i> (pp. 91–98). Lemgo.","ama":"Song J, Yuan H, Koch C. Zuverlässigkeit von Steckverbindern. In: <i>Tagungsband Der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>. Lemgo; 2019:91-98.","din1505-2-1":"<span style=\"font-variant:small-caps;\">Song, Jian</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Yuan, Haomiao</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Koch, C.</span>: Zuverlässigkeit von Steckverbindern. In: <i>Tagungsband der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>. Lemgo, 2019, S. 91–98","chicago-de":"Song, Jian, Haomiao Yuan und C. Koch. 2019. Zuverlässigkeit von Steckverbindern. In: <i>Tagungsband der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“</i>, 91–98. Lemgo."},"department":[{"_id":"DEP6012"}],"page":"91 - 98","publication":"Tagungsband der VDE/VDI-GMM-Fachtagung „Symposium Connectors“"}