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Beitrag aus Lemgo bei internationaler Konferenz ausgezeichnet

Erfolg für das Institut für Industrielle Informationstechnik (inIT) der Hochschule OWL: Bei der internationalen Fachtagung IS&T/SPIE Electronic Imaging 2015 in San Francisco ist ein Team von Lemgoer Wissenschaftlern für den besten Tagungsbeitrag ausgezeichnet worden. Die IS&T/SPIE Electronic Imaging zählt weltweit zu den größten Forschungs- und Technologiekonferenzen rund um das Thema elektronische Bildverarbeitung.

Erfolg für das Institut für Industrielle Informationstechnik (inIT) der Hochschule OWL: Bei der internationalen Fachtagung IS&T/SPIE Electronic Imaging 2015 in San Francisco ist ein Team von Lemgoer Wissenschaftlern für den besten Tagungsbeitrag ausgezeichnet worden. Die IS&T/SPIE Electronic Imaging zählt weltweit zu den größten Forschungs- und Technologiekonferenzen rund um das Thema elektronische Bildverarbeitung.

Strahlende Gesichter bei Professor Volker Lohweg und den wissenschaftlichen Mitarbeitern Eugen Gillich, Kai Fabian Henning, Alexander Fritze und Uwe Mönks: Die inIT-Forschungsgruppe „Diskrete Systeme“ überzeugte mit ihrem Tagungsbeitrag „Stable image acquisition for mobile image processing applications“. Dafür wurde sie am 10. Februar mit dem „Best Paper Award 2015“ im Bereich „Digital Photographie and Mobile Imaging“ ausgezeichnet.

Die Fachkonferenz „IS&T/SPIE Electronic Imaging 2015“ fand vom 8. bis 12. Februar in San Francisco statt. Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler aus aller Welt beschäftigten sich unter anderem mit Themen wie digitale Imaging-Systeme, 3D-Displays, Image-Qualität und Modellierung.