Wichtig für elektrische Steckverbinder ist es, die erforderlichen Signale und Ströme über die gesamte Lebensdauer zu leiten. Die Anforderungen sind in den letzten Jahren enorm gestiegen und müssen dem jeweiligen Anwendungsfall angepasst werden. Das für den Entwurf und die Entwicklung von Steckverbindern erforderliche Verfahren sowie deren Prüfung zur Bestimmung der Zuverlässigkeit vor dem Einbau in eine Anwendung ist ein zeitaufwändiger und arbeitsintensiver Prozess.
In seiner Arbeit zeigt Shukla, wie man elektrische Steckverbinder besser entwerfen und optimieren kann. Er benutzt dafür die Finite-Elemente-Methode (FEM), die sowohl strukturelle als auch thermisch-elektrische Aspekte berücksichtigt. Zusätzlich verwendet er datenbasierte statistische Methoden, um die Lebensdauer der Steckverbinder vorherzusagen. Der Vorteil ist, dass keine langfristigen Prüfungen notwendig sind. Die Prognose kann aus Daten von Kurzzeittests hergeleitet werden. So kann die Zeit vom Entwurf bis zur Installation der Steckverbinder, bei denen Zuverlässigkeit wichtig ist, deutlich verkürzt werden.
Abhay Rammurti Shukla studierte an der University of Pune in Indien Mechanical Engineering und anschließend an der Universität Duisburg-Essen Maschinenbau. Nach seinem Studium arbeitete er im Rahmen seiner Promotion im Labor für Feinsystemtechnik im Fachbereich Maschinenbau und Mechatronik an der TH OWL unter der Leitung von Professor Song als wissenschaftlicher Mitarbeiter. Sein Wissen setzt er weiterhin im Beriech der elektrischen Verbindungstechnik bei seiner jetzigen Tätigkeit als Entwicklungsingenieur in der Industrie ein.